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产品优势
防止大量不良的相似分析,提供分析结果Excel Export
根据用户组来生成Summary report
提供Multiple Lot & Wafer Map的分析功能 (Single map、gallery、overlaymap)
可快速直观的对使用者提供分析结果
通过自动解析量测设备中生成的BIN结果文件,通过检查文件提供分析多种Map的功能
综合平台为基础,提供灵活、扩展的Defect & Bin分析解决方案
构建效果
  • 1
    通过直观的Defect分析来提高生产效率,支持品质稳定性
  • 2
    通过分析Map对品质不良原因进行分类及分析,减少不良产出,消除及预防不良原因
  • 3
    通过分析效率和Defect 分析,实现可持续性的品质提升
客户案例